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外観検査アルゴリズムコンテスト

外観検査アルゴリズムコンテストというものがあるのをご存知でしょうか?
一度、こちらをご覧ください。
精密工学会が主催し、2001年から続くコンテストです。
今回のテーマは「半導体パターン上のマクロ欠陥の検出」です。

自称「外観検査屋」としても興味があり、画像も取り寄せてみました。

で思ったこと。

良品の画像があればなんら難しいことはない。位置決めして比較してやれば楽勝。
ただこのコンテストのように「画像だけ見せられて悪いところを探せ」となると難易度は一気に上がります。頑張って取り組んでも完璧は難しい。

確かに外観検査のアルゴリズムを考えることは「人間の思考回路」の研究という面では意義あることだとは思います。しかし製造現場で求められる外観検査においては、ほとんどの場合「良品」が存在します。また欠陥検出能力としては100%が必須でコンテストになるものではありません。99点でも困るのです。

外観検査は「欠陥を検出するもの」という先入観はあまりにも強すぎる。この先入観ゆえ・・・。

外観検査は「良品を検出するもの」。機械的に良品と同じものだけ検出できればよい。何か違うところがあれば、とりあえずNGとしておき、あとで人間が判断すればよい。難しい判断を機械にさせようとするから話が難しくなる。下手なことをして不良品を流出させたら目も当てられない。

研究テーマとしても得体の知れない「欠陥」を追い求めるより、「良品とは何たるものか」を極めるほうがはるかに簡単で意義あるのではないでしょうか。

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