良品のバラツキと検査アルゴリズム
ほとんどの場合、良品のバラツキ具合によって適用可能なアルゴリズムが変わります。 良品のバラツキがほとんど無ければ、撮像した画像はどれもほとんど同じ画像になります。だから良品の画像と較べてやれば欠陥部分を抽出するのは難しい […]
腕の立つプログラマ求む！
あまりの引き合いの多さに、さすがにもう限界・・・。 現場のニーズもどんどん入ってくる状況で、新たに手がけたいテーマもたくさんあるのですが、いかんせん時間が無い。 そこで「腕の立つプログラマ求む！」です。 Windows上 […]
外観検査アルゴリズムコンテスト
外観検査アルゴリズムコンテストというものがあるのをご存知でしょうか？ 一度、こちらをご覧ください。 精密工学会が主催し、2001年から続くコンテストです。 今回のテーマは「半導体パターン上のマクロ欠陥の検出」です。 自称 […]
外観検査装置の難しさ
自動外観検査のニーズは非常に高く、さまざまなメーカーから外観検査装置が販売されています。 しかしビジネス面であまりうまくいっているという話は聞きません。なぜでしょうか。 理由の一つに、外観検査は主観がすべてであり、それを […]
07画像センシング展 来場の御礼
去る6月6日~8日にパシフィコ横浜で開催されました’０７画像センシング展におきまして、当社ブースにご来場いただきありがとうございました。 ブースにてお名刺をいただきました方の総数148名、出展企業セミナーにご参加いただき […]
FAQ.市販の画像処理装置と何が違うのか？
展示会などで多くいただく質問で、 「K社やO社の画像処理装置と何が違うのか？」 というものがあります。 ・・・。 FIを導入されているユーザーは良くご理解いただいていると思うのですが、全くの別物です。 較べること自体が間 […]
07画像センシング展終了
画像センシング展が終了しました。当社ブースにお立ち寄りただ来ました方々、出展社セミナーにご参加いただきました方々、ありがとうございました。お名刺をいただきました方の数で前回(12月の国際画像機器展）比で1.5倍?2倍とか […]