外観検査アルゴリズムコンテスト
2007年6月19日
外観検査アルゴリズムコンテストというものがあるのをご存知でしょうか？ 一度、こちらをご覧ください。 精密工学会が主催し、2001年から続くコンテストです。 今回のテーマは「半導体パターン上のマクロ欠陥の検出」です。 自称 […]
外観検査装置の難しさ
2007年6月16日
自動外観検査のニーズは非常に高く、さまざまなメーカーから外観検査装置が販売されています。 しかしビジネス面であまりうまくいっているという話は聞きません。なぜでしょうか。 理由の一つに、外観検査は主観がすべてであり、それを […]
07画像センシング展 来場の御礼
2007年6月12日
去る6月6日~8日にパシフィコ横浜で開催されました’０７画像センシング展におきまして、当社ブースにご来場いただきありがとうございました。 ブースにてお名刺をいただきました方の総数148名、出展企業セミナーにご参加いただき […]
FAQ.市販の画像処理装置と何が違うのか？
2007年6月11日
展示会などで多くいただく質問で、 「K社やO社の画像処理装置と何が違うのか？」 というものがあります。 ・・・。 FIを導入されているユーザーは良くご理解いただいていると思うのですが、全くの別物です。 較べること自体が間 […]
07画像センシング展終了
2007年6月9日
画像センシング展が終了しました。当社ブースにお立ち寄りただ来ました方々、出展社セミナーにご参加いただきました方々、ありがとうございました。お名刺をいただきました方の数で前回(12月の国際画像機器展）比で1.5倍?2倍とか […]
画像センシング展2日目終了
2007年6月7日
出展社セミナーも無事終了いたしました。 ご参加いただきました100名ほどの方々ありがとうございました。 想定外の数であったため、資料不足、立ち見となり申し訳ございませんでした。 内容についてはいつもの通りなんですが、トー […]